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SF630數(shù)字超聲波探傷儀

具有獨(dú)立雙探傷閘門，可分別設(shè)置進(jìn)波報(bào)警，失波報(bào)警和雙閘門報(bào)警，并可顯示回波-回波距離，適用于完成不同種類的探傷任務(wù);

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產(chǎn)品編號(hào)

所屬分類

數(shù)量

庫(kù)存:

關(guān)鍵詞:

超聲波

探傷儀

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產(chǎn)品描述

[[[[[[[[[[[[[[[[[[[[[[產(chǎn)品參數(shù), 參數(shù)]]]]]]]]]]]]]]]]]]]]]]

參數(shù)

功能特點(diǎn)：

根據(jù)環(huán)境選擇背景色，亮度可自由設(shè)定，強(qiáng)光、弱光環(huán)境，清晰顯示;

預(yù)置50組獨(dú)立探傷通道，探傷工藝和標(biāo)準(zhǔn)自動(dòng)生成，可自由設(shè)置各行業(yè)探傷工藝標(biāo)準(zhǔn)，現(xiàn)場(chǎng)探傷無(wú)需攜帶試塊，滿足更多需求;

增益、聲程、閘門、通道的調(diào)節(jié)不僅可以導(dǎo)航鍵調(diào)節(jié)，更是國(guó)內(nèi)首創(chuàng)數(shù)字鍵直接輸入，探傷更加快捷高效;

獨(dú)特的衛(wèi)星鍵分布，實(shí)現(xiàn)單手握持操作;

雙晶探頭曲線制作功能;

內(nèi)置AWS 標(biāo)準(zhǔn);

實(shí)用的AVG曲線，自動(dòng)換算缺陷Φ值;

對(duì)實(shí)測(cè)DAC曲線，可進(jìn)行任意一點(diǎn)或多點(diǎn)修正;

具有直探頭、斜探頭、雙晶直探頭、雙晶斜探頭及穿透五種探傷工作方式;

缺陷回波參數(shù)(距離、垂直、水平、波幅、dB或當(dāng)量孔徑值)實(shí)時(shí)顯示;

具有自動(dòng)增益、峰值記憶、回波包絡(luò)、門內(nèi)報(bào)警、DAC門、門內(nèi)展寬、波形凍結(jié)、實(shí)心波顯示、深度補(bǔ)償?shù)裙δ?

曲面修正：曲面工件探傷，對(duì)缺陷定位更加準(zhǔn)確;

焊縫圖示：探傷中實(shí)時(shí)描述聲程過程，直觀顯示缺陷位置;

實(shí)時(shí)動(dòng)態(tài)記錄檢測(cè)波形、數(shù)據(jù)，無(wú)需主機(jī)與電腦連接后安裝相關(guān)驅(qū)動(dòng)，只需通過U盤便將儀器內(nèi)存儲(chǔ)波形、數(shù)據(jù)快速導(dǎo)出;

超低功耗設(shè)計(jì)，連續(xù)使用10小時(shí)以上。

主要技術(shù)參數(shù)：